Методы измерения параметров полупроводников: Процессы, обусловленные равновесной концентрацией носителей заряда / Моск. ордена Трудового Красного Знамени ин-т стали и сплавов
Сохранено в:
Показ/скрытие дополнительной информации.
Автор: | Потапов, Ю. В. |
---|---|
Вид документа: | |
Опубликовано: | М. , 1970 |
Язык: | Русский |
00000nam1a22000001ib4500 | |||
001 | BY-NLB-rr28792230000 | ||
005 | 20070529183647.0 | ||
100 | # | # | $a 20070529d1970 y0rusy50 ca |
101 | 0 | # | $a rus |
102 | # | # | $a RU |
200 | 1 | # | $a Методы измерения параметров полупроводников $e Процессы, обусловленные равновесной концентрацией носителей заряда $f Моск. ордена Трудового Красного Знамени ин-т стали и сплавов |
210 | # | # | $a М. $d 1970 |
700 | # | 1 | $a Потапов $b Ю. В. |
801 | # | 1 | $a BY $b BY-HM0000 $c 20070529 $g psbo |