Методы измерения параметров полупроводников: Процессы, обусловленные равновесной концентрацией носителей заряда / Моск. ордена Трудового Красного Знамени ин-т стали и сплавов

Сохранено в:
Автор: Потапов, Ю. В.
Вид документа: Книги
Опубликовано: М. , 1970
Язык: Русский
00000nam1a22000001ib4500
001 BY-NLB-rr28792230000
005 20070529183647.0
100 # # $a 20070529d1970 y0rusy50 ca 
101 0 # $a rus 
102 # # $a RU 
200 1 # $a Методы измерения параметров полупроводников  $e Процессы, обусловленные равновесной концентрацией носителей заряда  $f Моск. ордена Трудового Красного Знамени ин-т стали и сплавов 
210 # # $a М.  $d 1970 
700 # 1 $a Потапов  $b Ю. В. 
801 # 1 $a BY  $b BY-HM0000  $c 20070529  $g psbo