Растровая электронная микроскопия и рентгеновский микроанализ: В 2-х кн. / [Гоулдстейн Дж., Ньюбери Д., Эчлин П. и др.]
Сохранено в:
Показ/скрытие дополнительной информации.
| Вид документа: | |
|---|---|
| Опубликовано: | М. : Мир , 1984 |
| Язык: | Русский |
| 00000nam1a22000001ib4500 | |||
| 001 | BY-NLB-rr25735800000 | ||
| 005 | 20071203161315.0 | ||
| 100 | # | # | $a 20071203d1984 y0rusy50 ca |
| 101 | 0 | # | $a rus |
| 102 | # | # | $a RU |
| 200 | 1 | # | $a Растровая электронная микроскопия и рентгеновский микроанализ $e В 2-х кн. $f [Гоулдстейн Дж., Ньюбери Д., Эчлин П. и др.] $g Пер. с англ. Р. С. Гвоздовер и Л. Ф. Комоловой; Под ред. В. И. Петрова |
| 210 | # | # | $a М. $c Мир $d 1984 |
| 215 | # | # | $d 22 см |
| 300 | # | # | $a Перевод изд.: Scanning electron microscopy and X-ray microanalysis / Joseph I. Galdstein Dalê E. Newbury Patrick Echlin et al (New York; London, 1981) |
| 801 | # | 1 | $a BY $b BY-HM0000 $c 20071203 $g psbo |