Причины, механизмы отказов и надежность полупроводниковых приборов при механических воздействиях: (Материалы лекций, прочит. в Политехн. музее на семинаре по надежности и прогрессивным методам контроля качества пром. продукции) / В. В. Ведерников, Н. Н. Горюнов, Э. Г. Павлович, А. А. Чернышев