Причины, механизмы отказов и надежность полупроводниковых приборов при механических воздействиях: (Материалы лекций, прочит. в Политехн. музее на семинаре по надежности и прогрессивным методам контроля качества пром. продукции) / В. В. Ведерников, Н. Н. Горюнов, Э. Г. Павлович, А. А. Чернышев
Сохранено в:
Показ/скрытие дополнительной информации.
| Вид документа: | |
|---|---|
| Опубликовано: | М. : Знание , 1977 |
| Язык: | Русский |
| 00000nam1a22000001ib4500 | |||
| 001 | BY-NLB-rr25192140000 | ||
| 005 | 20071203122843.0 | ||
| 100 | # | # | $a 20071203d1977 y0rusy50 ca |
| 101 | 0 | # | $a rus |
| 102 | # | # | $a RU |
| 200 | 1 | # | $a Причины, механизмы отказов и надежность полупроводниковых приборов при механических воздействиях $e (Материалы лекций, прочит. в Политехн. музее на семинаре по надежности и прогрессивным методам контроля качества пром. продукции) $f В. В. Ведерников, Н. Н. Горюнов, Э. Г. Павлович, А. А. Чернышев $g Под науч. ред. д-ра техн. наук, проф. Б. Б. Бердичевского |
| 210 | # | # | $a М. $c Знание $d 1977 |
| 215 | # | # | $d 19 см |
| 300 | # | # | $a В надзаг.: Гос. ком. стандартов Совета Министров СССР, Всесоюз. совет науч.-техн. о-в |
| 801 | # | 1 | $a BY $b BY-HM0000 $c 20071203 $g psbo |