Моделирование на ЭВМ дефектов в кристаллах
Сохранено в:
Показ/скрытие дополнительной информации.
Вид документа: | |
---|---|
Опубликовано: | Л. : ЛИЯФ |
Язык: | Русский |
Вид документа: | |
---|---|
Опубликовано: | Л. : ЛИЯФ |
Язык: | Русский |