Электронная библиотека Национальной библиотеки Беларуси

Обзоры по электронной технике / Министерство электронной промышленности СССР

Сохранено в:

Другие авторы/ответственные:	"Электроника", институт (Москва)
Вид документа:	Периодические издания
Опубликовано:	Москва : ЦНИИ "Электроника" , 1981―1989
Язык:	Русский
Предмет:	ИСПЫТАНИЯ МЕТРОЛОГИЯ СТАНДАРТИЗАЦИЯ УПРАВЛЕНИЕ КАЧЕСТВОМ ЭЛЕКТРОННАЯ ТЕХНИКА

УДК:	006.91:621.38(048.8) 006:621.38(048.8) 621.38:005.6(048.8) 621.38:620.1(048.8)
ГРНТИ:	47.01.37 47.01.81 90.01
Примечания:	Издается с 1970 По 1981, вып. 1 и 1982, вып. 1 (908) заглавие серии: Управление качеством, метрология, стандартизация Библиография в конце статей
Связанные документы:	Продолжает: Обзоры по электронной технике. Серия 8, Управление качеством, метрология, стандартизация / Министерство электронной промышленности СССР. - Москва : ЦНИИ "Электроника", 1978―1982

1

Автоматизированные системы испытаний ЦМД ЗУ : (по данным отечественной и зарубежной печати за 1977―1980 гг.) / В. И. Проскурин, Г. В. Титов, С. И. Выдрин. — Москва : ЦНИИ "Электроника", 1983. — 52 с. — (Обзоры по электронной технике. Управление качеством, метрология, стандартизация, испытания ; 1983, вып. 4)

Автор Проскурин, В. И.

Периодические издания

Добавить в Избранное

Сохранено в:

Структура документа
2

Автоматизированные системы тестового контроля и испытаний средств микропроцессорной техники. Ч. 1. Методологические вопросы : (по данным отечественной и зарубежной печати за 1976―1981 гг.) / В. М. Вальков. — Москва : ЦНИИ "Электроника", 1981. — 57 с. — (Обзоры по электронной технике. Управление качеством, метрология, стандартизация, испытания ; 1981, вып. 2)

Автор Вальков, В. М.

Периодические издания

Добавить в Избранное

Сохранено в:

Структура документа
3

Автоматизированные системы тестового контроля и испытаний средств микропроцессорной техники. Ч. 2. Анализ характеристик действующих систем : (по данным отечественной и зарубежной печати за 1976―1981 гг.) / В. М. Вальков. — Москва : ЦНИИ "Электроника", 1982. — 30 с. — (Обзоры по электронной технике. Управление качеством, метрология, стандартизация, испытания ; 1982, вып. 3)

Автор Вальков, В. М.

Периодические издания

Добавить в Избранное

Сохранено в:

Структура документа
4

Возможности применения волоконно-оптических датчиков для измерения параметров магнитного поля : (по данным отечественной и зарубежной печати за 1975―1988 гг.) / О. А. Бузова [и др.]. — Москва : ЦНИИ "Электроника", 1989. — 72 с. — (Обзоры по электронной технике. Управление качеством, метрология, стандартизация, испытания ; 1989, вып. 6)

Автор Бузова, О. А.

Периодические издания

Добавить в Избранное

Сохранено в:

Структура документа
5

Измерение малых расходов газов при производстве изделий микроэлектроники : (по данным отечественной и зарубежной печати за 1968―1985 гг.) / Р. Н. Каратаев, Н. А. Пулина, В. Б. Лысов. — Москва : ЦНИИ "Электроника", 1988. — 43 с. — (Обзоры по электронной технике. Управление качеством, метрология, стандартизация, испытания ; 1988, вып. 1)

Автор Каратаев, Р. Н.

Периодические издания

Добавить в Избранное

Сохранено в:

Структура документа
6

Измерительные устройства магнитных характеристик поля и вещества на магнитооптическом эффекте Фарадея : (по данным отечественной и зарубежной печати за 1961―1987 гг.) / О. А. Бузова, Е. Г. Дерюгина, В. К. Николаев. — Москва : ЦНИИ "Электроника", 1988. — 51 с. — (Обзоры по электронной технике. Управление качеством, метрология, стандартизация, испытания ; 1988, вып. 4)

Автор Бузова, О. А.

Периодические издания

Добавить в Избранное

Сохранено в:

Структура документа
7

Лазерные методы контроля полупроводниковых материало и структур / В. Н. Амазаспян [и др.]. — Москва : ЦНИИ "Электроника", 1984. — 52 с. — (Обзоры по электронной технике. Управление качеством, метрология, стандартизация, испытания ; 1984, вып. 3)

Автор Амазаспян, В. Н.

Периодические издания

Добавить в Избранное

Сохранено в:

Структура документа
8

Метод жидких кристаллов в контроле интегральных схем : (по данным отечественной и зарубежной печати за 1970―1985 гг.) / А. Е. Рубцов, Г. Е. Невская. — Москва : ЦНИИ "Электроника", 1986. — 47 с. — (Обзоры по электронной технике. Управление качеством, метрология, стандартизация, испытания ; 1986, вып. 1)

Автор Рубцов, А. Е.

Периодические издания

Добавить в Избранное

Сохранено в:

Структура документа
9

Метрологическое обеспечение испытаний изделий электронной техники на механические и климатические внешние воздействующие факторы. Ч. 1. Обеспечение единства исследований внешних воздействующих факторов в условиях эксплуатации изделий электронной техники / В. Б. Лысов, Е. А. Якушенко. — Москва : ЦНИИ "Электроника", 1984. — 78, [1] с. — (Обзоры по электронной технике. Управление качеством, метрология, стандартизация, испытания ; 1984, вып. 4)

Автор Лысов, В. Б.

Периодические издания

Добавить в Избранное

Сохранено в:

Структура документа
10

Метрологическое обеспечение испытаний изделий электронной техники на механические и климатические внешние воздействующие факторы. Ч. 2. Аттестация испытательного оборудования / В. Б. Лысов, Е. А. Якушенко. — Москва : ЦНИИ "Электроника", 1984. — 23 с. — (Обзоры по электронной технике. Управление качеством, метрология, стандартизация, испытания ; 1984, вып. 5)

Автор Лысов, В. Б.

Периодические издания

Добавить в Избранное

Сохранено в:

Структура документа
11

Метрологическое обеспечение испытаний изделий электронной техники на механические и климатические внешние воздействующие факторы. Ч. 3. Методы аттестации механического испытательного оборудования : (по данным отечественной и зарубежной печати за 1970―1984 гг.) / В. Б. Лысов. — Москва : ЦНИИ "Электроника", 1985. — 47 с. — (Обзоры по электронной технике. Управление качеством, метрология, стандартизация, испытания ; 1985, вып. 1)

Автор Лысов, В. Б.

Периодические издания

Добавить в Избранное

Сохранено в:

Структура документа
12

Модели и методы тестового диагностирования микропроцессорных БИС / В. В. Данилов [и др.]. — Москва : ЦНИИ "Электроника", 1984. — 38 с. — (Обзоры по электронной технике. Управление качеством, метрология, стандартизация, испытания ; 1984, вып. 2)

Автор Данилов, В. В.

Периодические издания

Добавить в Избранное

Сохранено в:

Структура документа
13

Оптимизация метода нематических : (по данным отечественной и зарубежной печати за 1970―1988 гг.) / Б. Ю. Геликман [и др.]. — Москва : ЦНИИ "Электроника", 1989. — 51 с. — (Обзоры по электронной технике. Управление качеством, метрология, стандартизация, испытания ; 1989, вып. 2)

Автор Чигринов, В. Г.

Периодические издания

Добавить в Избранное

Сохранено в:

Структура документа
14

Оптические методы диагностики полупроводниковых структур на основе соединений А3В5 : (по данным отечественной и зарубежной печати за 1975―1989 гг.) / А. В. Бобыль [и др.]. — Москва : ЦНИИ "Электроника", 1990. — 64 с. — (Обзоры по электронной технике. Управление качеством, метрология, стандартизация, испытания ; 1990, вып. 1)

Автор Бобыль, А. В.

Периодические издания

Добавить в Избранное

Сохранено в:

Структура документа
15

Основные причины и механизмы отказов конденсаторов : (по данным отечественной и зарубежной печати за 1970―1988 гг.) / Б. Ю. Геликман [и др.]. — Москва : ЦНИИ "Электроника", 1989. — 64 с. — (Обзоры по электронной технике. Управление качеством, метрология, стандартизация, испытания ; 1989, вып. 3)

Автор Геликман, Б. Ю.

Периодические издания

Добавить в Избранное

Сохранено в:

Структура документа
16

Системы цифровой обработки изображений для интроскопических исследований : (по данным отечественной и зарубежной печати за 1983―1989 гг.) / Б. И. Мазурик [и др.]. — Москва : ЦНИИ "Электроника", 1989. — 56 с. — (Обзоры по электронной технике. Управление качеством, метрология, стандартизация, испытания ; 1989, вып. 7)

Автор Мазурик, Б. И.

Периодические издания

Добавить в Избранное

Сохранено в:

Структура документа
17

Современное состояние проблемы надежности кремниевых биполярных интегральных систем : (по данным отечественной и зарубежной печати за 1972―1983 гг.) / М. И. Горлов. — Москва : ЦНИИ "Электроника", 1984. — 61 с. — (Обзоры по электронной технике. Управление качеством, метрология, стандартизация, испытания ; 1984, вып. 1)

Автор Горлов, М. И.

Периодические издания

Добавить в Избранное

Сохранено в:

Структура документа
18

Состояние и перспективы развития фототермоакустической микроскопии материалов и изделий электронной техники / В. О. Ребони [и др.]. — Москва : ЦНИИ "Электроника", 1988. — 32 с. — (Обзоры по электронной технике. Управление качеством, метрология, стандартизация, испытания ; 1988, вып. 2)

Автор Ребони, В. О.

Периодические издания

Добавить в Избранное

Сохранено в:

Структура документа
19

Спеуиализированные средства функционального контроля : (по данным отечественной и зарубежной печати за 1977―1988 гг.) / В. Н. Литвак, Е. Е. Михайлов, А. А. Топтун. — Москва : ЦНИИ "Электроника", 1989. — 64 с. — (Обзоры по электронной технике. Управление качеством, метрология, стандартизация, испытания ; 1989, вып. 1)

Автор Литвак, В. Н.

Периодические издания

Добавить в Избранное

Сохранено в:

Структура документа
20

Средства функционального диагностирования БИС : (по данным отечественной и зарубежной печати за 1973―1983 гг.) / В. П. Ерлашов. — Москва : ЦНИИ "Электроника", 1985. — 88 с. — (Обзоры по электронной технике. Управление качеством, метрология, стандартизация, испытания ; 1985, вып. 2)

Автор Ерлашов, В. П.

Периодические издания

Добавить в Избранное

Сохранено в:

Структура документа

Обзоры по электронной технике / Министерство электронной промышленности СССР

Продолжает:

В этой коллекции

Фильтр ключевых слов