Электронная библиотека Национальной библиотеки Беларуси

Обзоры по электронной технике / Министерство электронной промышленности СССР

Сохранено в:

Другие авторы/ответственные:	"Электроника", институт (Москва)
Вид документа:	Периодические издания
Опубликовано:	Москва : ЦНИИ "Электроника" , 1978―1982
Язык:	Русский
Предмет:	МЕТРОЛОГИЯ СТАНДАРТИЗАЦИЯ УПРАВЛЕНИЕ КАЧЕСТВОМ ЭЛЕКТРОННАЯ ТЕХНИКА

УДК:	006.91:621.38(048.8) 006:621.38(048.8) 621.38:005.6(048.8)
ГРНТИ:	47.01.37 47.01.81 90.01
Другие заглавия:	Управление качеством, метрология и стандартизация
Примечания:	Издается с 1970 По 1977 заглавие серии: Управление качеством и стандартизация 1981, вып. 2 (835) и с 1982, вып. 3 (836) заглавие серии: Управление качеством, стандартизация, метрология, испытания Библиография в конце статей
Связанные документы:	Продолжает: Обзоры по электронной технике. Серия 8, Управление качеством и стандартизация / Министерство электронной промышленности СССР. - Москва : ЦНИИ "Электроника", 1970―1977 Продолжается под заглавием: Обзоры по электронной технике. Серия 8, Управление качеством, стандартизация, метрология, испытания / Министерство электронной промышленности СССР. - Москва : ЦНИИ "Электроника", 1981―1989

1

Анализ брака и отказов интегральных схем : (по материалам отечественных и зарубежных источников за 1958―1978 гг.) / [Л. Н. Блеялкина, и др.]. — Москва : ЦНИИ "Электроника", 1979. — 44 с. — (Обзоры по электронной технике. Управление качеством, метрология, стандартизация ; 1979, вып. 2)

Автор Блеялкина, Л. Н.

Периодические издания

Добавить в Избранное

Сохранено в:

Структура документа
2

Механизм деградации и отказов микроэлементов и интегральных микросхем обусловленные влиянием климатических условий : (по данным отечественной и зарубежной печати за 1970―1977 гг.) / [О. П. Глудкин, А. Л. Русанова. — Москва : ЦНИИ "Электроника", 1980. — 66 с. — (Обзоры по электронной технике. Управление качеством, метрология, стандартизация ; 1980, вып. 2)

Автор Глудкин, О. П.

Периодические издания

Добавить в Избранное

Сохранено в:

Структура документа
3

Надежность технологических процессов : (по данным отечественной и зарубежной печати за 1958―1978 гг.) / [Г. К. Мартынов, А. Н. Печенкин. — Москва : ЦНИИ "Электроника", 1979. — 87 с. — (Обзоры по электронной технике. Управление качеством, метрология, стандартизация ; 1979, вып. 3)

Автор Мартынов, Г. К.

Периодические издания

Добавить в Избранное

Сохранено в:

Структура документа
4

Некоторые модели в управлении качеством изделий электронной техники : (по данным отечественной печати за 1970―1980 гг.) / [П. М. Кайдаулов. — Москва : ЦНИИ "Электроника", 1981. — 40, [1] с. — (Обзоры по электронной технике. Управление качеством, метрология, стандартизация ; 1981, вып. 1)

Автор Кайдаулов, П. М.

Периодические издания

Добавить в Избранное

Сохранено в:

Структура документа
5

Обеспечение стойкости микроэлементов и интегральных микросхем к воздействию климатических условий : (по данным отечественной и зарубежной печати за 1967―1977 гг.) / [О. П. Глудкин, А. Л. Русанова. — Москва : ЦНИИ "Электроника", 1980. — 36 с. — (Обзоры по электронной технике. Управление качеством, метрология, стандартизация ; 1980, вып. 3)

Автор Глудкин, О. П.

Периодические издания

Добавить в Избранное

Сохранено в:

Структура документа
6

Прогнозирование надежности изделий электронной техники на основе информативных параметров : (по данным отечественной и зарубежной печати за 1965―1976 гг.) / [П. С. Гамлявый и др.]. — Москва : ЦНИИ "Электроника", 1979. — 93, [1] с. — (Обзоры по электронной технике. Управление качеством, метрология, стандартизация ; 1979, вып. 1)

Автор Гамлявый, П. С.

Периодические издания

Добавить в Избранное

Сохранено в:

Структура документа
7

Прогнозирование технического состояния изделий электронной техники в процессе производства : (по материалам отечественных и зарубежных источников за 1972―1979 гг.) / [В. П. Калявин, Ю. Н. Костенко, Г. С. Скосырский. — Москва : ЦНИИ "Электроника", 1980. — 57, [1] с. — (Обзоры по электронной технике. Управление качеством, метрология, стандартизация ; 1980, вып. 1)

Автор Калявин, В. П.

Периодические издания

Добавить в Избранное

Сохранено в:

Структура документа
8

Физико-химические методы анализа в производстве интегральных схем : (по данным отечественной и зарубежной печати за 1967―1981 гг.) / [Г. И. Завадский, А. Г. Кирилюк, А. А. Савенко. — Москва : ЦНИИ "Электроника", 1982. — 33 с. — (Обзоры по электронной технике. Управление качеством, метрология, стандартизация ; 1982, вып. 1)

Автор Завадский, Г. И.

Периодические издания

Добавить в Избранное

Сохранено в:

Структура документа

Обзоры по электронной технике / Министерство электронной промышленности СССР

Продолжает:

Продолжается под заглавием:

В этой коллекции

Фильтр ключевых слов