Образование и отжиг дефектов при бомбардировке полупроводников ионами; вторично-эмиссионные методы исследования [[Микроформа]]: Дис. ... д-ра физ.-мат. наук: Утв. 04.05.90: (01.04.04)
Сохранено в:
| Вид документа: | |
|---|---|
| Автор: | Титов, А. И. |
| Опубликовано: | Л. , 1989 |
| Физические характеристики: |
402 с. : ил.
|
| Язык: | Русский |
ОФХ отдела книгохранения
| Всего : 1 , доступно: 1 | Доступно Заказать | ||||||||||
|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|
|
|||||||||||