
Вторично-ионный анализ материалов и структур электронной техники с управлением газовой средой в зоне анализа [[Микроформа]]: Дис. ... д-ра техн. наук: (05.27.02)
Сохранено в:
Вид документа: | |
---|---|
Автор: | Попов, В. Ф. |
Опубликовано: | Л. , 1990 |
Физические характеристики: |
402 с.
|
Язык: | Русский |
ОФХ отдела книгохранения
Всего : 1 , доступно: 1 | Доступно Заказать | ||||||||||
---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|
|