Методы и средства радиоволнового-импедансного технологического контроля качества полупроводниковых-тонкопленочных структур устройств радиотехники и средств связи [[Микроформа]]: Дис. ... д-ра техн. наук: (05.12.13)
Сохранено в:
| Вид документа: | |
|---|---|
| Автор: | Григулис, Ю. К. |
| Опубликовано: | Рига , 1990 |
| Физические характеристики: |
462 с.
|
| Язык: | Русский |
ОФХ отдела книгохранения
| Всего : 1 , доступно: 1 | Доступно Заказать | ||||||||||
|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|
|
|||||||||||