|
|
|
|
|
00000nam0a22000001ib4500 |
| 001 |
BY-NLB-rr38294400000 |
| 005 |
20071004161856.0 |
| 010 |
# |
# |
$b В пер.
$d 2 р. 90 к.
|
| 021 |
# |
# |
$a RU
$b [81-64847]
|
| 100 |
# |
# |
$a 20071004d1981 y0rusy50 ca
|
| 101 |
0 |
# |
$a rus
|
| 102 |
# |
# |
$a RU
|
| 200 |
1 |
# |
$a Механизмы образования и миграции дефектов в полупроводниках
$f В. С. Вавилов, А. Е. Кив, О. Р. Ниязова
|
| 210 |
# |
# |
$a М.
$c Наука
$d 1981
|
| 215 |
# |
# |
$a 368 с.
$c ил.
$d 20 см
|
| 225 |
2 |
# |
$a Физика полупроводников и полупроводниковых приборов. ФПиПП
|
| 300 |
# |
# |
$a Библиогр.: с. 332-360, 367-368 (30 назв.)
|
| 345 |
# |
# |
$9 4500 экз.
|
| 610 |
0 |
# |
$a Полупроводники - Дефекты
|
| 675 |
# |
# |
$a 537.311.322:548.4
|
| 700 |
# |
1 |
$a Вавилов
$b В. С.
$g Виктор Сергеевич
|
| 701 |
# |
1 |
$a Кив
$b А. Е.
$g Арик Ефимович
|
| 701 |
# |
1 |
$a Ниязова
$b О. Р.
$g Озод Рахимовна
|
| 801 |
# |
1 |
$a BY
$b BY-HM0000
$c 20071004
$g psbo
|
