Механизмы образования и миграции дефектов в полупроводниках / В. С. Вавилов, А. Е. Кив, О. Р. Ниязова
Сохранено в:
| Вид документа: | |
|---|---|
| Автор: | Вавилов, В. С. |
| Опубликовано: | М. : Наука , 1981 |
| Физические характеристики: |
368 с. : ил. ; 20 см
|
| Язык: | Русский |
| Серия: |
Физика полупроводников и полупроводниковых приборов. ФПиПП
|
| Предмет: |
ОФХ отдела книгохранения
| Всего : 2 , доступно: 2 | Доступно Заказать | |||||||||||||||
|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|
|
||||||||||||||||