Растровая электронная микроскопия полупроводников и диэлектриков: (043): Автореф. дис. на соискание учен. степени канд. физ.-мат. наук / [Моск. гос. ун-т]. Физ. фак.
Сохранено в:
Вид документа: | |
---|---|
Автор: | Быков, М. В. |
Опубликовано: | М. : Изд. Моск. ун-та , 1971 |
Физические характеристики: |
17 с.
|
Язык: | Русский |
00000nam0a22000001ia4500 | |||
001 | BY-NLB-rr38253770000 | ||
005 | 20071004155708.0 | ||
021 | # | # | $a RU $b [71-16832а] |
100 | # | # | $a 20071004d1971 y0rusy50 ca |
101 | 0 | # | $a rus |
102 | # | # | $a RU |
200 | 1 | # | $a Растровая электронная микроскопия полупроводников и диэлектриков $e (043) $e Автореф. дис. на соискание учен. степени канд. физ.-мат. наук $f [Моск. гос. ун-т]. Физ. фак. |
210 | # | # | $a М. $c Изд. Моск. ун-та $d 1971 |
215 | # | # | $a 17 с. |
300 | # | # | $a Список лит.: с. 16-17 |
686 | # | # | $a 043 $2 oksvnk |
700 | # | 1 | $a Быков $b М. В. |
801 | # | 1 | $a BY $b BY-HM0000 $c 20071004 $g psbo |