Растровая электронная микроскопия полупроводников и диэлектриков: (043): Автореф. дис. на соискание учен. степени канд. физ.-мат. наук / [Моск. гос. ун-т]. Физ. фак.

Сохранено в:
Шифр документа: АЯ167891,
Вид документа: Авторефераты диссертаций
Автор: Быков, М. В.
Опубликовано: М. : Изд. Моск. ун-та , 1971
Физические характеристики: 17 с.
Язык: Русский
00000nam0a22000001ia4500
001 BY-NLB-rr38253770000
005 20071004155708.0
021 # # $a RU  $b [71-16832а] 
100 # # $a 20071004d1971 y0rusy50 ca 
101 0 # $a rus 
102 # # $a RU 
200 1 # $a Растровая электронная микроскопия полупроводников и диэлектриков  $e (043)  $e Автореф. дис. на соискание учен. степени канд. физ.-мат. наук  $f [Моск. гос. ун-т]. Физ. фак. 
210 # # $a М.  $c Изд. Моск. ун-та  $d 1971 
215 # # $a 17 с. 
300 # # $a Список лит.: с. 16-17 
686 # # $a 043  $2 oksvnk 
700 # 1 $a Быков  $b М. В. 
801 # 1 $a BY  $b BY-HM0000  $c 20071004  $g psbo