Растровая электронная микроскопия полупроводников и диэлектриков: (043): Автореф. дис. на соискание учен. степени канд. физ.-мат. наук / [Моск. гос. ун-т]. Физ. фак.
Сохранено в:
| Вид документа: | |
|---|---|
| Автор: | Быков, М. В. |
| Опубликовано: | М. : Изд. Моск. ун-та , 1971 |
| Физические характеристики: |
17 с.
|
| Язык: | Русский |
ОФХ отдела книгохранения
| Всего : 1 , доступно: 1 | Доступно Заказать | ||||||||||
|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|
|
|||||||||||