Точечные дефекты в полупроводниках: Эксперим. аспекты / Пер. с англ. Ю. М. Гальперина и др.; Под ред. [и с предисл.] В. Л. Гуревича

Saved in:
Шифр документа: 94433, 135173,
Format: Books
Main Author: Бургуэн, Ж.
Published: М. : Мир , 1985
Physical Description: 304 с. : ил. ; 21 см
Language: Russian
Subjects:

ОФХ отдела книгохранения

All : 2 , available: 2 Available  Place a Hold

Information about the copies

Shifr Fond Holding place Copy status Reading room
94433 ОФХ отдела книгохранения (039) 11:3:1:26:11 AVAILABLE Рекомендованный ЧитЗал
135173 ОФХ отдела книгохранения (039) 11:3:1:33:11 AVAILABLE Рекомендованный ЧитЗал