|
|
|
|
|
00000nam0a22000001ia4500 |
| 001 |
BY-NLB-rr37756290000 |
| 005 |
20070831110324.0 |
| 100 |
# |
# |
$a 20070831d1984 y0rusy50 ca
|
| 101 |
0 |
# |
$a rus
|
| 102 |
# |
# |
$a RU
|
| 200 |
1 |
# |
$a Исследования дефектов кристаллической структуры, возникающих в полупроводниках при технологических воздействиях, методами амплитудно-фазового электронно-микроскопического контраста
$e Автореф. дис. на соиск. учен. степ. канд. физ.-мат. наук
$e (01.04.10)
$f Моск. ин-т электронной техники
|
| 210 |
# |
# |
$a М.
$d 1984
|
| 300 |
# |
# |
$a Библиогр.: с. 15-17 (13 назв.). Для служеб. пользования
|
| 686 |
# |
# |
$a 01.04.10
$2 oksvnk
|
| 700 |
# |
1 |
$a Боргардт
$b Н. И.
$g Николай Иванович
|
| 801 |
# |
1 |
$a BY
$b BY-HM0000
$c 20070831
$g psbo
|
