Образование дефектов на кремниевых пластинах в процессе их эпитаксиального выращивания

Сохранено в:
Шифр документа: АЯ100059,
Вид документа: Книги
Автор: Бидерман, Э.
Опубликовано: М. : ЦНИИ техн.-экон. исследований и науч. информации , 1967
Физические характеристики: 8 с.
Язык: Русский
Серия: Переводы иностр. литературы. Серия "Полупроводниковые приборы и микроэлектроника" Перевод № 79/ЭТ-2069
00000nam0a22000001ib4500
001 BY-NLB-rr37428900000
005 20070830153951.0
100 # # $a 20070830d1967 y0rusy50 ca 
101 0 # $a rus 
102 # # $a RU 
200 1 # $a Образование дефектов на кремниевых пластинах в процессе их эпитаксиального выращивания 
210 # # $a М.  $c ЦНИИ техн.-экон. исследований и науч. информации  $d 1967 
215 # # $a 8 с. 
225 2 # $a Переводы иностр. литературы. Серия "Полупроводниковые приборы и микроэлектроника"  $f М-во электронной пром-сти СССР  $v Перевод № 79/ЭТ-2069 
300 # # $a На обл. авт. не указан 
675 # # $a 539.293 
700 # 1 $a Бидерман  $b Э. 
801 # 1 $a BY  $b BY-HM0000  $c 20070830  $g psbo