Изучение дефектной структуры пленок электронно-микроскопическим методом разрешения решетки: (01.04.07): Автореф. дис. на соиск. учен. степ. канд. физ.-мат. наук
Сохранено в:
| Вид документа: | |
|---|---|
| Автор: | Багмут, А. Г. |
| Опубликовано: | Харьков , 1979 |
| Физические характеристики: |
20 с. : схем.
|
| Язык: | Русский |
ОФХ отдела книгохранения
| Всего : 1 , доступно: 1 | Доступно Заказать | ||||||||||
|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|
|
|||||||||||