Исследование влияния технологических факторов на напряжение пробоя интегрального транзистора и разработка методов выбора оптимальных параметров структуры: Автореф. дис. на соиск. учен. степ. канд. техн. наук: (05.12.18)

Zapisane w:
Шифр документа: АЯ471314СК,
Format: Авторефераты диссертаций
1. autor: Аронов, М. Д.
Wydane: М. , 1983
Opis fizyczny: 25 с.
Język: Русский

ОФХ отдела книгохранения

Всего : 1 , доступно: 1 Dostępne  Zamów

Информация об экземплярах

Шифр Фонд Место нахождения Статус экземпляра Читальный зал
АЯ471314СК ОФХ отдела книгохранения (039) 11:4:2:64 СВОБОДЕН Рекомендованный ЧитЗал