![](/themes/root/images/default-cover.png)
Измерение параметров полупроводниковых приборов : Курс лекций / Моск. ин-т стали и сплавов. Кафедра полупроводниковой электроники и физики полупроводников. Ч. 3
Сохранено в:
Вид документа: | |
---|---|
Физические характеристики: |
126 с. : черт.
|
Язык: | Русский |
00000nam2a22000001ib4500 | |||
001 | BY-NLB-rr36331390002 | ||
005 | 20070810175938.0 | ||
010 | # | # | $d 21 к. |
021 | # | # | $a RU $b [73-4550] |
100 | # | # | $a 20070810f y0rusy50 ca |
101 | 0 | # | $a rus |
200 | 0 | # | $a Ч. 3 |
215 | # | # | $a 126 с. $c черт. |
300 | # | # | $a Список лит.: с. 124-125 (11 назв.) |
345 | # | # | $9 180 экз. |
461 | # | 0 | $1 001BY-NLB-rr36331390000 $1 2000 $v Ч. 3 |
801 | # | 1 | $a BY $b BY-HM0000 $c 20070810 $g psbo |
830 | # | # | $a АН784578Ч.4;АН784579Ч.3; |