Измерение параметров полупроводниковых приборов : Курс лекций / Моск. ин-т стали и сплавов. Кафедра полупроводниковой электроники и физики полупроводников. Ч. 3

Сохранено в:
Шифр документа: АН784579,
Вид документа: Книги
Физические характеристики: 126 с. : черт.
Язык: Русский
00000nam2a22000001ib4500
001 BY-NLB-rr36331390002
005 20070810175938.0
010 # # $d 21 к. 
021 # # $a RU  $b [73-4550] 
100 # # $a 20070810f y0rusy50 ca 
101 0 # $a rus 
200 0 # $a Ч. 3 
215 # # $a 126 с.  $c черт. 
300 # # $a Список лит.: с. 124-125 (11 назв.) 
345 # # $9 180 экз. 
461 # 0 $1 001BY-NLB-rr36331390000  $1 2000   $v Ч. 3 
801 # 1 $a BY  $b BY-HM0000  $c 20070810  $g psbo 
830 # # $a АН784578Ч.4;АН784579Ч.3;