Измерение параметров полупроводниковых приборов : Курс лекций / Моск. ин-т стали и сплавов. Кафедра полупроводниковой электроники и физики полупроводников. Ч. 3

Сохранено в:
Шифр документа: АН784579,
Вид документа: Книги
Физические характеристики: 126 с. : черт.
Язык: Русский

ОФХ отдела книгохранения

Всего : 1 , доступно: 1 Доступно  Заказать

Информация об экземплярах

Шифр Фонд Место нахождения Статус экземпляра Читальный зал
АН784579 ОФХ отдела книгохранения (039) 11:1:5:156 СВОБОДЕН Рекомендованный ЧитЗал