|
|
|
|
|
00000nam0a22000001ib4500 |
| 001 |
BY-NLB-rr34858000000 |
| 005 |
20070802151804.0 |
| 010 |
# |
# |
$d 10 к.
|
| 021 |
# |
# |
$a RU
$b [78-37141]
|
| 100 |
# |
# |
$a 20070802d1978 y0rusy50 ca
|
| 101 |
0 |
# |
$a rus
|
| 102 |
# |
# |
$a RU
|
| 200 |
1 |
# |
$a Физика надежности интегральных полупроводниковых схем
$e Методы анализа причин отказов : (Материалы лекций, прочит. в Политехн. музее на Семинаре по надежности и прогрессив. методам контроля продукции)
$f Под науч. ред. Б. Е. Бердичевского
|
| 210 |
# |
# |
$a М.
$c Знание
$d 1978
|
| 215 |
# |
# |
$a 46 с.
$c ил.
$d 20 см
|
| 300 |
# |
# |
$a В надзаг.: Политехн. музей, Гос. ком. стандартов Совета Министров СССР, Всесоюз. совет НТО. Список лит.: с. 45 (7 назв.). На тит. л. и обл.: Вып. 3
|
| 345 |
# |
# |
$9 1750 экз.
|
| 610 |
0 |
# |
$a Полупроводниковые схемы - Надежность
|
| 675 |
# |
# |
$a 621.382.049.77.019.3
|
| 700 |
# |
1 |
$a Долматова
$b Т. В.
$g Татьяна Васильевна
|
| 801 |
# |
1 |
$a BY
$b BY-HM0000
$c 20070802
$g psbo
|
