Физика надежности интегральных полупроводниковых схем: Методы анализа причин отказов : (Материалы лекций, прочит. в Политехн. музее на Семинаре по надежности и прогрессив. методам контроля продукции) / Под науч. ред. Б. Е. Бердичевского
Сохранено в:
| Вид документа: | |
|---|---|
| Автор: | Долматова, Т. В. |
| Опубликовано: | М. : Знание , 1978 |
| Физические характеристики: |
46 с. : ил. ; 20 см
|
| Язык: | Русский |
| Предмет: |
ОФХ отдела книгохранения
| Всего : 2 , доступно: 2 | Доступно Заказать | |||||||||||||||
|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|
|
||||||||||||||||