О возможном механизме потерь заряда во входных окнах полупроводниковых детекторов / Б. М. Головин, В. Ф. Кушнирук, Л. А. Пермякова
Сохранено в:
Вид документа: | |
---|---|
Автор: | Головин, Б. М. |
Опубликовано: | Дубна : ОИЯИ , 1982 |
Физические характеристики: |
7 с. : схем. ; 21 см
|
Язык: | Русский |
Серия: |
Сообщ. Объед. ин-та ядер. исслед.
15-82-520 |
Предмет: |
ОФХ отдела книгохранения
Всего : 1 , доступно: 1 | Доступно Заказать | ||||||||||
---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|
|