Развитие структурной протонографии в области исследования тонких приповерхностных слоев кристаллов и тонких пленок с помощью протонограмм: (01.04.07): Автореф. дис. на соиск. учен. степени канд. физ.-мат. наук / Харьк. гос. ун-т им. А. М. Горького
Сохранено в:
Вид документа: | |
---|---|
Автор: | Файнштейн, А. Л. |
Опубликовано: | Харьков , 1976 |
Физические характеристики: |
24 с. : граф.
|
Язык: | Русский |
ОФХ отдела книгохранения
Всего : 1 , доступно: 1 | Доступно Заказать | ||||||||||
---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|
|