Исследование электрофизических свойств МИП и МИМ структур со сквозными дефектами изолирующих слоев и сколами: (01.04.10): Автореф. дис. на соиск. учен. степени канд. физ.-мат. наук / АН СССР. Сиб. отд-ние. Ин-т физики полупроводников
Сохранено в:
| Вид документа: | |
|---|---|
| Автор: | Ройзин, Я. О. |
| Опубликовано: | Новосибирск , 1978 |
| Физические характеристики: |
17 с.
|
| Язык: | Русский |
ОФХ отдела книгохранения
| Всего : 1 , доступно: 1 | Доступно Заказать | ||||||||||
|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|
|
|||||||||||