Основные предельно допустимые величины параметров и характеристики полупроводниковых приборов и общие принципы измерений : Рекомендация МЭК. (Перевод). Эталонные методы измерений
Сохранено в:
| Вид документа: | |
|---|---|
| Физические характеристики: |
20 с. : черт.
|
| Язык: | Русский |
| Серия: |
Публикация
147-3 |
| 00000nam2a22000001ib4500 | |||
| 001 | BY-NLB-rr24281900002 | ||
| 005 | 20071113144922.0 | ||
| 010 | # | # | $d 8 к. |
| 021 | # | # | $a RU $b [71-71537] |
| 100 | # | # | $a 20071113f y0rusy50 ca |
| 101 | 0 | # | $a rus |
| 200 | 0 | # | $a Эталонные методы измерений |
| 215 | # | # | $a 20 с. $c черт. |
| 225 | 2 | # | $a Публикация $f Междунар. электротехн. комис. $v 147-3 |
| 461 | # | 0 | $1 001BY-NLB-rr24281900000 $1 2000 $v Ч. 3 |
| 675 | # | # | $a 621.382.08 |
| 801 | # | 1 | $a BY $b BY-HM0000 $c 20071113 $g psbo |
| 830 | # | # | $a АНД725366;АУД422533; |