Основные предельно допустимые величины параметров и характеристики полупроводниковых приборов и общие принципы измерений : Рекомендация МЭК. (Перевод). Эталонные методы измерений
Сохранено в:
| Вид документа: | |
|---|---|
| Физические характеристики: |
20 с. : черт.
|
| Язык: | Русский |
| Серия: |
Публикация
147-3 |
ОФХ отдела книгохранения
| Всего : 2 , доступно: 2 | Доступно Заказать | |||||||||||||||
|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|
|
||||||||||||||||