Бесконтактные методы измерений полупроводниковых материалов : (Обзор лит.) / М-во цветной металлургии СССР. Центр. НИИ информации и техн.-экон. исследований цветной металлургии.... СВЧ- и оптические методы / Сост.: И. Н. Туркин, М. А. Ильин, М. М. Горшков и др.
Сохранено в:
| Вид документа: | |
|---|---|
| Физические характеристики: |
91 с. : черт.
|
| Язык: | Русский |
ОФХ отдела книгохранения
| Всего : 1 , доступно: 1 | Доступно Заказать | ||||||||||
|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|
|
|||||||||||