Исследование дефектов в монокристаллах кремния и германия методами рентгеновской дифракционной топографии: Автореферат дисс на соискание учен. степени канд. физ.-мат. наук: (046) / АН СССР. Ин-т полупроводников
Сохранено в:
| Вид документа: | |
|---|---|
| Автор: | Шульпина, И. Л. |
| Опубликовано: | Л. , 1968 |
| Физические характеристики: |
15 с.
|
| Язык: | Русский |
| 00000nam0a22000001ia4500 | |||
| 001 | BY-NLB-rr19373970000 | ||
| 005 | 20070517175240.0 | ||
| 100 | # | # | $a 20070517d1968 y0rusy50 ca |
| 101 | 0 | # | $a rus |
| 102 | # | # | $a RU |
| 200 | 1 | # | $a Исследование дефектов в монокристаллах кремния и германия методами рентгеновской дифракционной топографии $e Автореферат дисс на соискание учен. степени канд. физ.-мат. наук $e (046) $f АН СССР. Ин-т полупроводников |
| 210 | # | # | $a Л. $d 1968 |
| 215 | # | # | $a 15 с. |
| 300 | # | # | $a Библиогр.: с. 15 (11 назв.) |
| 686 | # | # | $a 046 $2 oksvnk |
| 700 | # | 1 | $a Шульпина $b И. Л. |
| 801 | # | 1 | $a BY $b BY-HM0000 $c 20070517 $g psbo |