Исследование дефектов в монокристаллах кремния и германия методами рентгеновской дифракционной топографии: Автореферат дисс на соискание учен. степени канд. физ.-мат. наук: (046) / АН СССР. Ин-т полупроводников
Сохранено в:
| Вид документа: | |
|---|---|
| Автор: | Шульпина, И. Л. |
| Опубликовано: | Л. , 1968 |
| Физические характеристики: |
15 с.
|
| Язык: | Русский |
ОФХ отдела книгохранения
| Всего : 1 , доступно: 1 | Доступно Заказать | ||||||||||
|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|
|
|||||||||||