Исследование тонких слоев методом массспектрометрии вторичных ионов
Сохранено в:
| Вид документа: | |
|---|---|
| Автор: | Ченакин, С. П. |
| Опубликовано: | Киев , 1860 |
| Физические характеристики: |
57 с.
|
| Язык: | Русский |
| Серия: |
Препринт
ИМФ 80.16 |
| Предмет: |
ОФХ отдела книгохранения
| Всего : 1 , доступно: 1 | Доступно Заказать | ||||||||||
|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|
|
|||||||||||