Основы электронной микроскопии: Метод. пособие для пользователей / Таллин. техн. ун-т, Лаб. электрон. микроскопии и рентген. анализа
Сохранено в:
Вид документа: | |
---|---|
Автор: | Мейлер, Б. Л. |
Опубликовано: | Таллинн , 1990 |
Физические характеристики: |
100 с.
|
Язык: | Русский |
Предмет: |
ОФХ отдела книгохранения
Всего : 2 , доступно: 2 | Доступно Заказать | |||||||||||||||
---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|
|