Исследование и комплексное применение ядернофизических методов анализа тонких пленок: (02.00.02): Автореф. дис. на соиск. учен. степени канд. хим. наук / Гос. науч.-исслед. и проектный ин-т редкометал. пром-сти
Сохранено в:
Вид документа: | |
---|---|
Автор: | Кузьмин, Л. Е. |
Опубликовано: | М. , 1977 |
Физические характеристики: |
22 с. : граф.
|
Язык: | Русский |
ОФХ отдела книгохранения
Всего : 1 , доступно: 1 | Доступно Заказать | ||||||||||
---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|
|