Емкостная спектроскопия примесных и дефектных уровней в полупроводниках типа A?B?
Сохранено в:
Вид документа: | |
---|---|
Автор: | Кравченко, А. Ф. |
Опубликовано: | Новосибирск , 1979 |
Физические характеристики: |
44 с.
|
Язык: | Русский |
Серия: |
Препринт
35-79 |
00000nam0a22000001ib4500 | |||
001 | BY-NLB-rr13052450000 | ||
005 | 20070227161455.0 | ||
010 | # | # | $d Б. ц. |
021 | # | # | $a RU $b [79-82433] |
100 | # | # | $a 20070227d1979 y0rusy50 ca |
101 | 0 | # | $a rus |
102 | # | # | $a RU |
200 | 1 | # | $a Емкостная спектроскопия примесных и дефектных уровней в полупроводниках типа A?B? |
210 | # | # | $a Новосибирск $d 1979 |
215 | # | # | $a 44 с. |
225 | 2 | # | $a Препринт $f АН СССР. Сиб. отд-ние. Ин-т физики полупроводников $v 35-79 |
300 | # | # | $a Библиогр.: с. 39-43 (92 назв.) |
345 | # | # | $9 200 экз. |
675 | # | # | $a 621.315.592 |
700 | # | 1 | $a Кравченко $b А. Ф. $g Александр Филиппович |
701 | # | 1 | $a Принц $b В. Я. $g Виктор Яковлевич |
801 | # | 1 | $a BY $b BY-HM0000 $c 20070227 $g psbo |