Емкостная спектроскопия примесных и дефектных уровней в полупроводниках типа A?B?

Сохранено в:
Шифр документа: МД87287,
Вид документа: Книги
Автор: Кравченко, А. Ф.
Опубликовано: Новосибирск , 1979
Физические характеристики: 44 с.
Язык: Русский
Серия: Препринт 35-79
00000nam0a22000001ib4500
001 BY-NLB-rr13052450000
005 20070227161455.0
010 # # $d Б. ц. 
021 # # $a RU  $b [79-82433] 
100 # # $a 20070227d1979 y0rusy50 ca 
101 0 # $a rus 
102 # # $a RU 
200 1 # $a Емкостная спектроскопия примесных и дефектных уровней в полупроводниках типа A?B? 
210 # # $a Новосибирск  $d 1979 
215 # # $a 44 с. 
225 2 # $a Препринт  $f АН СССР. Сиб. отд-ние. Ин-т физики полупроводников  $v 35-79 
300 # # $a Библиогр.: с. 39-43 (92 назв.) 
345 # # $9 200 экз. 
675 # # $a 621.315.592 
700 # 1 $a Кравченко  $b А. Ф.  $g Александр Филиппович 
701 # 1 $a Принц  $b В. Я.  $g Виктор Яковлевич 
801 # 1 $a BY  $b BY-HM0000  $c 20070227  $g psbo