Емкостная спектроскопия примесных и дефектных уровней в полупроводниках типа A?B?
Сохранено в:
| Вид документа: | |
|---|---|
| Автор: | Кравченко, А. Ф. |
| Опубликовано: | Новосибирск , 1979 |
| Физические характеристики: |
44 с.
|
| Язык: | Русский |
| Серия: |
Препринт
35-79 |
ОФХ отдела книгохранения
| Всего : 1 , доступно: 1 | Доступно Заказать | ||||||||||
|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|
|
|||||||||||