Разработка методики вторично-эмиссионного ионного анализа и исследование сегнетоэлектрических пленок, осажденных из плазмы высокочастотного разряда: Автореф. дис. на соиск. учен. степ. канд. техн. наук: (05.12.10)
Сохранено в:
| Вид документа: | |
|---|---|
| Автор: | Ильинский, Л. С. |
| Опубликовано: | Л. , 1982 |
| Физические характеристики: |
17 с.
|
| Язык: | Русский |
ОФХ отдела книгохранения
| Всего : 1 , доступно: 1 | Доступно Заказать | ||||||||||
|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|
|
|||||||||||