Технологические отбраковочные и диагностические испытания полупроводниковых изделий / М.И.Горлов, В.А.Емельянов, Д.Л.Ануфриев
Сохранено в:
| Вид документа: | |
|---|---|
| Автор: | Горлов, М. И. |
| Опубликовано: | Минск : Белорусская наука , 2006 |
| Физические характеристики: |
366, [1] с. ; 20 см.
|
| Язык: | Русский |
| Предмет: |
ОФХ отдела книгохранения
| Всего : 2 , доступно: 2 | Доступно Заказать | |||||||||||||||
|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|
|
||||||||||||||||