Неразрушающее тестирование запоминающих устройств: монография / Ярмолик В.Н. [и др.]
Zapisane w:
| Format: | |
|---|---|
| Wydane: | Минск : Бестпринт , 2005 |
| Opis fizyczny: |
229 с. ; 20 см.
|
| Język: | rosyjski |
| Hasła przedmiotowe: |
ОФХ отдела книгохранения
| Всего : 2 , доступно: 2 | Dostępne Zamów | |||||||||||||||
|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|
|
||||||||||||||||