Неразрушающее тестирование запоминающих устройств: монография / Ярмолик В.Н. [и др.]
Guardado en:
| Formato: | |
|---|---|
| Publicado: | Минск : Бестпринт , 2005 |
| Descripción Física: |
229 с. ; 20 см.
|
| Lenguaje: | Русский |
| Materias: |
ОФХ отдела книгохранения
| Всего : 2 , доступно: 2 | Disponible Hacer reserva | |||||||||||||||
|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|
|
||||||||||||||||