Рентгеноспектральный и электронно-микроскопический методы исследования структуры и свойств материалов / [В. П. Гольцев и др.]
Захавана ў:
| Тып дакумента: | |
|---|---|
| Апублікавана: | Минск : Наука и техника , 1980 |
| Фізіч. характарыстыкі: |
189, [2] с. : ил., табл. ; 20 см
|
| Мова: | Руская |
| Прадмет: |
ОФХ отдела книгохранения
| Усяго : 3 , даступна: 3 | Даступна Замовіць | ||||||||||||||||||||
|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|
|
|||||||||||||||||||||