Исследование образования поверхностных точечных дефектов в тонких пленках ЩГК на монокристалле Si (111) при облучении медленными электронами: Автореф. дис. на соиск. учен. степ. канд. физ.-мат. наук: 01.04.04 / Хожиев Шерали Тешаевич

Сохранено в:
Шифр документа: 2Ад60542,
Вид документа: Авторефераты диссертаций
Автор: Хожиев, Ш. Т.
Опубликовано: Ташкент , 2001
Физические характеристики: 21 с.
Язык: Русский
Предмет:
00000cam0a22000004ia4500
001 BY-NLB-br374168
005 20210223145738.0
100 # # $a 20020104d2001 k y0rusy50 ||||ca 
101 0 # $a rus 
105 # # $a y m 001yy 
109 # # $a ac  $a aa 
200 1 # $a Исследование образования поверхностных точечных дефектов в тонких пленках ЩГК на монокристалле Si (111) при облучении медленными электронами  $e Автореф. дис. на соиск. учен. степ. канд. физ.-мат. наук  $e 01.04.04  $f Хожиев Шерали Тешаевич  $g Акад. наук Респ. Узбекистан, Ин-т электроники им. У.А.Арифова 
210 # # $a Ташкент  $d 2001 
215 # # $a 21 с. 
300 # # $a Библиогр.: с. 19-20 (6 назв.). 
606 0 # $3 BY-NLB-ar35913  $a ФИЗИЧЕСКАЯ ЭЛЕКТРОНИКА  $2 DVNLB 
606 0 # $3 BY-NLB-ar55807  $a ИОННЫЕ КРИСТАЛЛЫ  $2 DVNLB 
606 0 # $3 BY-NLB-ar2705960  $a ЩЕЛОЧНО-ГАЛОИДНЫЕ КРИСТАЛЛЫ  $2 DVNLB 
606 0 # $3 BY-NLB-ar34161  $a ТОНКИЕ ПЛЕНКИ  $2 DVNLB 
606 0 # $3 BY-NLB-ar1756760  $a ДИЭЛЕКТРИЧЕСКИЕ ПЛЕНКИ  $2 DVNLB 
606 0 # $3 BY-NLB-ar3174631  $a ЭЛЕКТРОННОЕ ОБЛУЧЕНИЕ  $2 DVNLB 
606 0 # $3 BY-NLB-ar3341921  $a МОНОКРИСТАЛЛИЧЕСКИЙ КРЕМНИЙ  $2 DVNLB 
606 0 # $3 BY-NLB-br2203367  $a ТОЧЕЧНЫЕ ДЕФЕКТЫ  $2 DVNLB 
686 # # $a 29.19.11  $v 6  $2 rugasnti 
686 # # $a 29.19.16  $v 6  $2 rugasnti 
686 # # $a 29.19.33  $v 6  $2 rugasnti 
686 # # $a 29.19.21  $v 6  $2 rugasnti 
686 # # $a 01.04.04  $2 nsnrzz 
700 # 1 $3 BY-SEK-506043  $a Хожиев  $b Ш. Т.  $g Шерали Тешаевич 
801 # 0 $a BY  $b BY-HM0000  $c 20020104  $g psbo 
801 # 1 $a BY  $b BY-HM0000  $c 20060316  $g psbo