The 1980 Canadian reliability symposium, May 16―17, 1980, Toronto, Ontario, Canada: proceedings
Enregistré dans:
| Format: | |
|---|---|
| Publié: | [S. l. : s. n. , 1980] |
| Description matérielle: |
V, 160 с. : іл. ; 26 см
|
| Langue: | Английский |
| Collection: |
Microelectronics and reliability
vol. 20, № 1/2 |
1980, Vol.20,№1/2: The 1980 Canadian reliability symposium, May 16―17, 1980...
| Всего : 1 , доступно: 1 | Disponible Réserver | ||||||||||
|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|
|
|||||||||||