Spectroscopic characterization techniques for semiconductor technolody III / Orest J. Glembocki, Fred H. Pollak, Fernando Ponce
Zapisane w:
| Format: | |
|---|---|
| 1. autor: | SPIE - the international society for optical enginneering |
| Wydane: | Washington : SPIE , 1988 |
| Opis fizyczny: |
VIII, 234 c.
|
| Język: | Английский |
| Seria: |
Proceedings of SPIE - the international society for optical enginneering; Vol. 946
|
ОФХ отдела книгохранения
| Всего : 1 , доступно: 1 | Dostępne Zamów | ||||||||||
|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|
|
|||||||||||