Влияние технологических факторов на интенсивность электромиграции в межсоединениях интегральных схем: (по материалам зарубежной печати за 1966―1986 гг.) / И. А. Калябина
Сохранено в:
| 格式: | |
|---|---|
| 主要作者: | Калябина, И. А. |
| 出版: | Москва : ЦНИИ "Электроника" , 1986 |
| 實物描述: |
26 с. : ил. ; 21 см
|
| 語言: | Русский |
| 叢編: |
Обзоры по электронной технике
1986, вып. 18 |
1986, Вып.18: Влияние технологических факторов... / Калябина И. А.
| Всего : 1 , доступно: 1 | 可用 預訂 | ||||||||||
|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|
|
|||||||||||