|
|
|
|
|
00000cam0a22000003ib4500 |
| 001 |
BY-NLB-br0001425747 |
| 005 |
20171128090501.0 |
| 100 |
# |
# |
$a 20171102d1968 |||y0bely50 ba
|
| 101 |
0 |
# |
$a pol
|
| 102 |
# |
# |
$a PL
|
| 105 |
# |
# |
$a a ||||001yy
|
| 200 |
1 |
# |
$a Radiometryczne metody pomiaru grubości powłok
$e [dla inżynierów i techników zatrudnionych w przemyśle chemicznym, metalowym, elektronicznym, papierniczym i in.]
$f Stefan Sękowski, Ryszard Szepke
|
| 210 |
# |
# |
$a Warszawa
$c Wydawnictwa Naukowo-Techniczne
$d 1968
|
| 215 |
# |
# |
$a 129, [1] с.
$c іл., схемы, табл.
$d 25 см
|
| 225 |
1 |
# |
$a Nowa technika
$v z. 75
|
| 320 |
# |
# |
$a Бібліяграфія ў канцы раздзелаў
|
| 320 |
# |
# |
$a Паказальнік: с. 129―130
|
| 345 |
# |
# |
$9 1680 экз.
|
| 620 |
# |
# |
$3 BY-NLB-ar3367695
$d Варшава
$2 BY-auth
|
| 700 |
# |
1 |
$a Sękowski
$b Stefan
$f 1925―2014
|
| 701 |
# |
1 |
$a Szepke
$b Ryszard
$f ?―2004
$4 070
|
| 801 |
# |
0 |
$a BY
$b BY-HM0000
$c 20171102
$g psbo
|
