Radiometryczne metody pomiaru grubości powłok: [dla inżynierów i techników zatrudnionych w przemyśle chemicznym, metalowym, elektronicznym, papierniczym i in.] / Stefan Sękowski, Ryszard Szepke
Сохранено в:
| Вид документа: | |
|---|---|
| Автор: | Sękowski, Stefan (1925―2014) |
| Опубликовано: | Warszawa : Wydawnictwa Naukowo-Techniczne , 1968 |
| Физические характеристики: |
129, [1] с. : іл., схемы, табл. ; 25 см
|
| Язык: | Польский |
| Серия: |
Nowa technika
z. 75 |
ОФХ отдела книгохранения
| Всего : 1 , доступно: 1 | Доступно Заказать | ||||||||||
|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|
|
|||||||||||