Механизм деградации и отказов микроэлементов и интегральных микросхем обусловленные влиянием климатических условий: (по данным отечественной и зарубежной печати за 1970―1977 гг.) / [О. П. Глудкин, А. Л. Русанова
Сохранено в:
| Вид документа: | |
|---|---|
| Автор: | Глудкин, О. П. |
| Опубликовано: | Москва : ЦНИИ "Электроника" , 1980 |
| Физические характеристики: |
66 с. : ил. ; 21 см
|
| Язык: | Русский |
| Серия: |
Обзоры по электронной технике
1980, вып. 2 |
Загрузка