Механизм деградации и отказов микроэлементов и интегральных микросхем обусловленные влиянием климатических условий: (по данным отечественной и зарубежной печати за 1970―1977 гг.) / [О. П. Глудкин, А. Л. Русанова
Захавана ў:
| Тып дакумента: | |
|---|---|
| Аўтар: | Глудкин, О. П. |
| Апублікавана: | Москва : ЦНИИ "Электроника" , 1980 |
| Фізіч. характарыстыкі: |
66 с. : ил. ; 21 см
|
| Мова: | Руская |
| Серыя: |
Обзоры по электронной технике
1980, вып. 2 |
1980, Вып.2: Механизм деградации и отказов микроэлементов и интегральных...
| Усяго : 1 , даступна: 1 | Даступна Замовіць | ||||||||||
|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|
|
|||||||||||