Гамма-дифрактометрическое исследование СаF2/Si(111) гетероструктур, выращенных методом молекулярной эпитаксии / А. И. Курбаков (отв. за вып.), Э. Э. Рубинова, А. Е. Соколов и др.
Сохранено в:
| Вид документа: | |
|---|---|
| Опубликовано: | Ленинград : ЛИЯФ , 1991 |
| Физические характеристики: |
28 с. : ил., табл. ; 20 см.
|
| Язык: | Английский |
| Серия: |
Препринт
№ 1706 |
ОФХ отдела книгохранения
| Всего : 1 , доступно: 1 | Доступно Заказать | ||||||||||
|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|
|
|||||||||||